Equipement de métrologie
Inspection et mesure de la topologie de surface de pièces moulées de haute précision pour l’industrie des semi-conducteurs
Problème
Notre client, une start-up spécialisée dans les semi-conducteurs, avait besoin de mesurer la topologie de surface de petites pièces moulées à très haut débit. Après avoir testé des dizaines de solutions du commerce, même la meilleure était au moins dix fois trop lente. Ils se sont donc tournés vers nous pour développer une plateforme d’inspection topologique sur mesure et à haute vitesse.
Solution
L’objectif du client étant de prototyper rapidement, nous avons créé un système entièrement personnalisé à partir de notre plateforme standard, intégrant un capteur confocal et une caméra de vision, ainsi qu’une platine de translation haute vitesse et un système d’acquisition. Le logiciel d’analyse a été développé intégralement en interne afin de réduire les coûts tout en conservant une vitesse maximale.
Résultat
Le prototype a été livré en seulement sept mois. La précision des mesures était supérieure à +/-1 µm, tandis que la productivité a explosé, passant d’environ 100 unités par heure avec les solutions standard à 1 000 unités par heure grâce à notre plateforme de métrologie personnalisée.